Las actividades se desarrollan enmarcadas dentro de las áreas tecnológicas siguientes:

→ (RAD) Efectos de la Radiación en componentes y sistemas electrónicos.

→ (AFM) Análisis físicos y de materiales.

→ (DVT) Desarrollo y validación de entornos de test dedicados a componentes EEE no estándar.

→ (DIS) Diseño de circuitos impresos e integración de sistemas de test.

→ (NTE) Desarrollo de nuevas aproximaciones al test eléctrico: On-line test, embeded test lab,…, etc.

Es bien sabido el efecto negativo que puede inducir la radiación sobre componentes y sistemas electrónicos. Existe una gran variedad de efectos que dependen del entorno de radiación (tipo de radiación: gamma, protones,  rayos cósmicos…) y del tipo de tecnología y dispositivos utilizados. En este apartado trabajamos para desarrollar mejores herramientas para realizar pruebas de radiación, realizaremos ensayos para poder entender y caracterizar los fenómenos de la radiación sobre diferentes tecnologías, explorando herramientas de simulación y desarrollando técnicas de mitigación que permitan mejorar la tolerancia a la radiación de diferentes instrumentos electrónicos.

Radiation Testing

Es bien sabido el efecto negativo que puede inducir la radiación sobre componentes y sistemas electrónicos. Existe una gran variedad de efectos que dependen del entorno de radiación (tipo de radiación: gamma, protones,  rayos cósmicos…) y del tipo de tecnología y dispositivos utilizados. En este apartado trabajamos para desarrollar mejores herramientas para realizar pruebas de radiación, realizaremos ensayos para poder entender y caracterizar los fenómenos de la radiación sobre diferentes tecnologías, explorando herramientas de simulación y desarrollando técnicas de mitigación que permitan mejorar la tolerancia a la radiación de diferentes instrumentos electrónicos.

Los nuevos productos ofrecen mejores prestaciones: tamaños reducidos, mayor velocidad, mayores capacidades, …, etc. La actividad está dominada principalmente por el mercado de consumo: automoción, telecomunicaciones, …, etc., con productos con un ciclo de vida cada vez más corto.

Los cambios no sólo están afectando al uso de nuevos materiales semiconductores: SiC, GaN, …, nuevas tecnologías: FinFet,…, y dimensiones más pequeñas (en el rango de los nanómetros), …, sino también a los procesos de fabricación, y a las actividades de encapsulado e integración, siendo necesario la realización de análisis minuciosos que permitan caracterizarlos.
Bajo este marco desarrollaremos una amplia gama de estudios y pruebas (análisis de fallos, análisis constructivos, ensayos de evaluación, …, etc.) orientados a obtener confianza en estos nuevos productos, de manera que podamos considerar su uso en aplicaciones de alta fiabilidad. Las investigaciones se llevarán a cabo utilizando técnicas de inspección de vanguardia como FIB, AFM, TEM / SEM, Rayos-X dinámicos y tomografía, …, etc., explorando también nuevas técnicas y métodos de inspección susceptibles de aportar Valor al proceso.

Material analysis hirex engineering

El mundo de los dispositivos electrónicos es un una disciplina muy extensa, que abarca una amplia gama de productos con características y necesidades de prueba muy diferentes. Algunos de ellos requieren enfoques de test dedicados que son específicos da la función, tecnología y modos de fallo de cada dispositivo. Por ejemplo, es conocido el efecto dañino que pueden producir ciertos impulsos de corriente sobre condensadores de tántalo, lo que hace necesario diseñar un entorno de test que permita analizar este efecto. Pero otras familias de dispositivos: sensores MEMS, dispositivos magnéticos, componentes electromecánicos, …, etc., también requieren entornos de prueba específicos para evaluar sus características y su validez para ciertas aplicaciones.

Bajo esta área vamos a desarrollar herramientas y entornos  de test para hacer posible la evaluación de este tipo de dispositivos.

Es fácil entender que las altas prestaciones ofrecidas por los nuevos dispositivos electrónicos demanden entornos de prueba con características incluso superiores que permitan mediciones sin introducir “artefactos” que puedan afectar a los resultados. Este proceso se está convirtiendo en un reto, sobre todo cuando llevamos la tecnología a límites de frecuencia, velocidad, volumen de datos, etc.

Para alcanzar este objetivo, y asegurar las operaciones de prueba, se deben desarrollar tareas en diferentes áreas, desde el diseño electrónico, simulaciones eléctricas, diseño de PCB,…, etc., hasta la selección y evaluación de las tecnologías más apropiadas y las técnicas de integración asociadas para poder realizar mediciones válidas exigidas para determinadas aplicaciones de prueba: dispositivos de RF, circuitos integrados de altas prestaciones, …, etc.

alter-technology-design-test

Hay una tendencia, y una necesidad, de testear componentes y sistemas electrónicos de manera remota, tratando de determinar su comportamiento y características en una amplia gama de situaciones. Esta tarea abarca desde el poder monitorizar ciertas variables y su posible variación: corriente, temperatura,…, etc., hasta poder ejecutar pruebas de test paramétricas y funcionales en línea sobre circuitos digitales, analógicos y de señal mixta. Estas metodologías tienen un gran valor para poder realizar ensayos ambientales y de fiabilidad, incluso considerando el uso de nuevas plataformas de prueba como los test en vuelo con cubesat,…, etc.

Por otra parte, las altas prestaciones que ofrecen las FPGA actuales permiten el diseño y desarrollo de entorno de test para ciertas aplicaciones, convirtiéndose en herramientas necesarias para ser exploradas y desarrolladas.

Además, las nuevas herramientas de diseño ofrecen la posibilidad de incorporar estructuras de test en los propios circuitos, permitiendo operaciones de auto-test y algunas mediciones eléctricas que ya no van a poder realizarse con los procedimientos clásicos de medición eléctrica (a través de los pines externos). Las posibilidades que esta tecnología está aportando permitirán a los sistemas incorporar medios de autotest, auto-sanación, y regular y adaptar sus prestaciones, lo que supone grandes ventajas en ciertas aplicaciones.

La estrategia en esta área, se centra en desarrollar todas las acciones necesarias para avanzar en este enfoque, iniciando la evaluación de los diferentes protocolos de comunicación, estableciendo herramientas de control y monitorización a distancia, estudiando instrumentos embebidos, …, etc., todas ellas orientadas a evaluar / probar los dispositivos electrónicos y los comportamientos del sistema en diferentes entornos.

alter technology electrical measurement laboratory