Análisis Físicos y Materiales
Es bien sabido el efecto negativo que puede inducir la radiación sobre componentes y sistemas electrónicos. Existe una gran variedad de efectos que dependen del entorno de radiación (tipo de radiación: gamma, protones, rayos cósmicos…) y del tipo de tecnología y dispositivos utilizados. En este apartado trabajamos para desarrollar mejores herramientas para realizar pruebas de radiación, realizaremos ensayos para poder entender y caracterizar los fenómenos de la radiación sobre diferentes tecnologías, explorando herramientas de simulación y desarrollando técnicas de mitigación que permitan mejorar la tolerancia a la radiación de diferentes instrumentos electrónicos.
Los nuevos productos ofrecen mejores prestaciones: tamaños reducidos, mayor velocidad, mayores capacidades etc,.. La actividad está dominada principalmente por el mercado de consumo: automoción, telecomunicaciones,etc.., con productos con un ciclo de vida cada vez más corto.
Los cambios no sólo están afectando al uso de nuevos materiales semiconductores: SiC, GaN, …, nuevas tecnologías: FinFet,…, y dimensiones más pequeñas (en el rango de los nanómetros), …, sino también a los procesos de fabricación, y a las actividades de encapsulado e integración, siendo necesario la realización de análisis minuciosos que permitan caracterizarlos.
Bajo este marco desarrollaremos una amplia gama de estudios y pruebas (análisis de fallos, análisis constructivos, ensayos de evaluación, …, etc.) orientados a obtener confianza en estos nuevos productos, de manera que podamos considerar su uso en aplicaciones de alta fiabilidad. Las investigaciones se llevarán a cabo utilizando técnicas de inspección de vanguardia como FIB, AFM, TEM / SEM, Rayos-X dinámicos y tomografía, …, etc., explorando también nuevas técnicas y métodos de inspección susceptibles de aportar Valor al proceso.
- Inmunidad conducida - 20th mayo 2019
- Ensayos de Transitorios eléctricos - 2nd mayo 2019
- Ensayo Campo de RF radiado - 2nd mayo 2019