Sonia Vargas Sierra

Sonia Vargas Sierra

Responsable del Área de Desarrollo de Pruebas de Señal Mixta

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Trayectoria

Sonia Vargas-Sierra recibió el doctorado en Microelectrónica por la Universidad de Sevilla en 2012. Ha trabajado como investigadora en el Instituto de Microelectrónica de Sevilla durante 10 años realizando el diseño y testado de sensores de imagen CMOS de alto rango dinámico, sistemas de visión en un chip y circuitos integrados 3D.

Desde 2005 se ha visto involucrada en proyectos de microelectrónica y diseño de sistemas entre otros, en los que cabe destacar en 2010 “AFLS4K” Diseño microelectrónico de sensor lineal de alta velocidad para aplicaciones de inspección industrial (IMSE) y sensores de imagen inteligentes. En 2011 trabajó con tecnologías de pila CMOS-3D [IMSE – Anafocus (e2v)] y el diseño de sensor celular de alta velocidad y ultra alta velocidad heterogéneo: procesadores para detección de luz máximamente espectral (IMSE).

Pero sin duda, uno de los proyectos en los que más ha trabajado durante más tiempo ha sido  la misión JUICE de la Agencia Espacial Europea (ESA) en el período comprendido entre 2015 y 2017 en el que ha realizado las siguientes actividades:

  • Pruebas usando UltraFlex ATE de 3 memorias flash NOR comerciales diferentes (BGA 64) para comparar los efectos bajo radiación (en curso):
  1. – Macronix: MX68GL1G0GHXFI-10G
  2. Micron: PC28F00AM29EWHA
  3. Spansion: S29GL01GS10FHI010
  • Extensas mediciones utilizando UltraFlex ATE de un chip de prueba ASIC (PGA 208) para probar tecnología XH018 HV CMOS X-FAB tecnología bajo radiación (Sitael TV1).
  • Investigación de la viabilidad de prueba de un ADC de 18bits a 1MS / s (AD7982) en el entorno ATE ATX7006.

En Alter Technology es responsable del área de desarrollo de testado de señal mixta, especializándose en el diseño de testado para ASICs y sistemas complejos para aplicaciones aeroespaciales, donde particularmente ha estado trabajando con:

  • Medición de conversores de alta velocidad y precisión ADC y DAC.
  • Equipo de prueba automática de señal mixta (ATE) Ultraflex de Teradyne.
  • Pruebas de VLSI para la verificación de los parámetros funcionales, estáticos y dinámicos.
  • Pruebas térmicas y ambientales. Prueba de radiación para aplicaciones aeroespaciales.

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