Following ESA contract awarded by ALTER technology, evaluation of capacitors and resistors to ‘out of the standard temperature space range’ was performed in our laboratories especially aimed to cover future necessities on Silicon Carbide (SiC) and Galium Nitride (GaN)...
La microsección y la inspección materialográfica son obligatorias en las diferentes líneas de verificación y calificación emitidas por agencias internacionales y organismos públicos como la Agencia Espacial Europea (ESA), la Agencia de Defensa y Logística (especificaciones MIL...
El proceso de corte transversal proporciona acceso a la estructura interna, los materiales y el diseño del dispositivo. Estos componentes, tales como los diodos, los capacitadores y los chips de silicio, se someten con frecuencia a cortes transversales para detectar defectos que...
