DAÑOS POR DESPLAZAMIENTO El daño por desplazamiento es el resultado de interacciones nucleares, normalmente dispersas, que provocan imperfecciones de estructura cristalina. El daño por desplazamiento repercute negativamente en la vida útil de una minoría de transistores. Un...
The radiation hardness of modern electronic devices regarding the space radiation environment is characterized according to two main aspects: cumulated effects and single event effects. The parts radiation qualification process includes Total Ionizing Dose (TID), Total Non...
VA160 and VATA160 are used as front-end readout ASICs in the payloads of DAMPE. Both Laser pulse test and heavy ion beam test were conducted to get the SEL tolerance of the ASICs. Laser test was performed firstly to quality the SEL sensitivity because it is easy and ready at all...
Laser beam brings unique capabilities for radiation hardness evaluation and testing of electronic components and systems. The presentation describes various laser techniques and approaches for radiation effects testing and research used in Russia by NRNU MEPhI and SPELS: SEE...
Electronics systems designed for applications in high radiation environments, such as space missions, high energy accelerators and avionics, are subject to a radiation qualification process at component level which is often time consuming and expensive. The new CERN High energy...
Goal of the study • Propose a DD test standard • Should be available by the end of the year after ESA and Components Technology Board (CTB)/Radiation Working group (RWG) comments • Goal of this presentation ⇒ Not a draft of the future guidelines, but: • Remind the physical...
New failure modes not observed in Silicon appear while testing SiC MOSFET and Schottky diodes and under heavy ions radiation. Gate damage in transistors remains undetected even monitoring drain current and gate leakage of the transistor under high voltage biasing conditions.
En aplicaciones espaciales, los optoacopladores pueden necesitar trabajar a temperaturas muy bajas. Bajo estas condiciones de operación a baja temperatura, la degradación del dispositivo sometida a exposición a la radiación puede mostrar un comportamiento diferente en...
Los diodos ASER se usan cada vez más para aplicaciones espaciales, ya sea para bombear láseres de estado sólido, en cargas fotónicas o como fuentes para aplicaciones LIDAR o espectrométricas. En aplicaciones espaciales, los problemas de confiabilidad son una preocupación...
La evaluación de confiabilidad de los Fotódulos Pin SI del Área fue un tema de exhibición en el Primer Simposio Internacional sobre Confiabilidad de Optoelectrónica para el Espacio que tuvo lugar en Cagliari, Italia, entre el 11 y el 14 de mayo de 2009. INTA, the Instituto...
Los efectos de evento único se vuelven cada vez más importantes debido a la evolución de la tecnología de los dispositivos, el aumento de la demanda de uso de COTS (y otros dispositivos no caracterizados contra la radiación) y los requisitos de radiación solicitados por nuevas...
Beam diagnosis intended to be used by hospitals and at nuclear facilities, with a scintillator with silicon and germanium arrays Novel 3D silicon technology applications: telescope and radiation detection High/medium ion and gamma energy reconstruction Hadrontherapy techniques...
