Evaluación de Confiabilidad de Fotodiodos PIN SI de Área Media / Grande para Enlaces Inalámbricos Ópticos para Comunicaciones Intra-espaciales

Evaluación de Confiabilidad de Fotodiodos PIN SI de Área Media / Grande para Enlaces Inalámbricos Ópticos para Comunicaciones Intra-espaciales

La evaluación de confiabilidad de los Fotódulos Pin SI del Área fue un tema de exhibición en el Primer Simposio Internacional sobre Confiabilidad de la Optoelectrónica para el Espacio que tuvo lugar en Cagliari, Italia, entre el 11 y el 14 de mayo de 2009.

INTA, el Instituto Nacional de Técnica Aeroespacial en colaboración con Alter Technology Spain, expuso en este Simposio temas relacionados con COTS in Space, Pruebas de Radiación de Protones y Pruebas de Evaluación de la Confiabilidad, dando conclusiones generales sobre la Evaluación de la Radiación y la Confiabilidad.

Conclusiones de las Pruebas de Radiación

  • Se ha evaluado una gran variedad de dispositivos COTS con daños por desplazamiento de protones. Se observa una disminución de la capacidad de respuesta (fotosensibilidad) y un aumento de la corriente oscura.
  • Los resultados dependen en gran medida del fabricante y la tecnología del detector bajo prueba.
  • Se ha observado que la degradación de la corriente oscura de los fotodiodos, cuantificada a través del factor de daño de la corriente oscura, es un parámetro bueno y muy sensible para evaluar el daño por desplazamiento del protón en los fotodiodos.
  • El factor de diodo ideal se ha calculado para todos los fotodiodos probados. Se ha observado que m> 2 para fluencias de protones superiores a 1012 p / cm2 en todos los casos.

Conclusiones de la Prueba de Evaluación de Confiabilidad

  • Sin fallas durante las pruebas de evaluación previa y evaluación
  • La calidad de los productos comerciales de alto volumen probados ha resultado ser muy buena.
  • La repetibilidad de las mediciones ópticas necesita una configuración y validación de posicionamiento precisas.
  • La definición de criterios de aprobación / falla es importante para tener una idea real de la estabilidad de los dispositivos.
  • Buen rendimiento de radiación de los tipos seleccionados.


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