Microsectioning

Microsecciones con haz de iones focalizados (FIB) Componentes Electrónicos

El haz de iones focalizados, también conocido como "sistema de fresado por haz de iones", es una técnica que se usa especialmente en el sector de los semiconductores y la ciencia de los materiales para la ablación, la deposición y el análisis de materiales específicos en el...

Radiographic Inspection electronic components

Inspección Radiográfica con Rayos X en 3D y 2D | Componentes Electrónicos

El propósito de la inspección radiográfica es detectar imperfecciones físicas internas que, de otra forma, no serían visibles en los componentes electrónicos. Las técnicas radiográficas muestran estos defectos como la presencia de objetos extraños, hilos con conexiones...