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Análisis de gas residual | Componentes Electrónicos

by Media ATN

El análisis de gas residual, también conocido como "análisis de gas interno" (IGA), es un ensayo destructivo que se realiza para examinar la atmósfera dentro de dispositivos con hermeticidad. El procedimiento de ensayo se basa en el fresado del componente, de manera que el...

Material Analysis EEE Electronic Components
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Componentes EEE y Análisis de Materiales

by Francisco Javier Aparicio Rebollo

El análisis de materiales se realiza para detectar e identificar los materiales usados en la fabricación de semiconductores, componentes de microelectrónica y encapsulados. Un objetivo concreto de este análisis es la detección de materiales prohibidos, sobre todo en el acabado...

pind test electronic component
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Ensayo de PIND – Detección del Ruido del Impacto de Partículas | EEE Parts

by Adrián Cembrano Pérez

La prueba PIND (prueba de detección de ruido por impacto de partículas) se realiza con el fin de detectar la presencia de partículas sueltas dentro de la cavidad de un dispositivo. La contaminación de partículas sueltas a menudo es causada por suciedad, fibras, residuos de...

C-SAM Test
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Microscopio Acústico de Barrido CSAM | Componentes Electrónicos

by Media ATN

El microscopio acústico de barrido (SAM) es un dispositivo de inspección que usa sonidos enfocados para investigar, medir u obtener una imagen interna de un objeto. Se usa habitualmente en análisis de fallos y evaluaciones no destructivas. El sector de los semiconductores...

incoming inspection electronic components
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Inspección de Entrada, Componentes Electrónicos

by Antonio José Rey

El objetivo de la inspección de entrada es identificar la presencia de posibles componentes que no cumplan los requisitos antes de registrar el material en el inventario o pasarlo al flujo de producción

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    3rd Seminar on Electronics Under Harsh Environment
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  • Efectos de la Radiación en la Electrónica
    Concurso Cátedra: “Efectos de la Radiación en la Electrónica”
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