En Alter Technology, podemos realizar la caracterización 3D utilizando la microscopía de escaneo láser confocal y el equipo de prueba más integrado y flexible del mundo para la caracterización dimensional tridimensional no destructiva, ayudando a los diseñadores a obtener...
Esta técnica combina dos métodos de inspección (microscopía e inspección con penetrante de tinte fluorescente) comúnmente utilizados para la detección de anomalías de la superficie, como grietas, porosidad, vueltas, deslaminaciones y otras discontinuidades. Este enfoque conjunto...
La termometría Raman es una técnica de caracterización térmica que utiliza los fenómenos de dispersión Raman para determinar la temperatura local en los sistemas microelectrónicos. Non-contact character. High spatial resolution (sub-micron scale). In-depth analysis within IR...
La microscopía térmica IR (o termometría de radiación infrarroja) analiza la distribución espacial de la radiación infrarroja emitida sobre la superficie del dispositivo o, finalmente, dentro del dispositivo inspeccionado. Esta técnica nos permite obtener mapas de temperatura...
Esta técnica analítica puede proporcionar información cualitativa y cuantitativa sobre la composición de una superficie (por ejemplo, la identificación de los elementos y el peso de estos, respectivamente). La técnica se basa en la detección y la espectroscopia de radiación...
Este tipo de inspección se realiza utilizando un microscopio electrónico que produce imágenes de una muestra al efectuar un barrido con un haz de electrones focalizados. La interacción entre los electrones y los átomos en la muestra genera señales que contienen información sobre...
El haz de iones focalizados, también conocido como "sistema de fresado por haz de iones", es una técnica que se usa especialmente en el sector de los semiconductores y la ciencia de los materiales para la ablación, la deposición y el análisis de materiales específicos en el...
