helios nanolab 650

SEM EDS, análisis de material interno | Componentes Eléctricos

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Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) – Haz de Iones Focalizados (FIB) para Inspecciones | EEE Parts

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Microsectioning

Microsecciones con haz de iones focalizados (FIB) Componentes Electrónicos

El haz de iones focalizados, también conocido como "sistema de fresado por haz de iones", es una técnica que se usa especialmente en el sector de los semiconductores y la ciencia de los materiales para la ablación, la deposición y el análisis de materiales específicos en el...