New failure modes not observed in Silicon appear while testing SiC MOSFET and Schottky diodes and under heavy ions radiation. Gate damage in transistors remains undetected even monitoring drain current and gate leakage of the transistor under high voltage biasing conditions.
ALTER TECHNOLOGY ejecutará diferentes tareas, como la definición detallada de las actividades de ingeniería de radiación espacial que se implementarán para JUICE y cuyo objetivo es reducir (en la mayor medida posible) los niveles de dosis de ionización totales para equipos e...
Actividades en Alter technology : Diseño y desarrollo de una cámara personalizada Caracterización del rendimiento de píxeles Monitoreo en línea de parámetros eléctricos y adquisición de imágenes en diferentes condiciones de trabajo (radiación, temperatura, vacío) Radiación de...
En aplicaciones espaciales, los optoacopladores pueden necesitar trabajar a temperaturas muy bajas. Bajo estas condiciones de operación a baja temperatura, la degradación del dispositivo sometida a exposición a la radiación puede mostrar un comportamiento diferente en...
La evaluación de confiabilidad de los Fotódulos Pin SI del Área fue un tema de exhibición en el Primer Simposio Internacional sobre Confiabilidad de Optoelectrónica para el Espacio que tuvo lugar en Cagliari, Italia, entre el 11 y el 14 de mayo de 2009. INTA, the Instituto...
Los efectos de evento único se vuelven cada vez más importantes debido a la evolución de la tecnología de los dispositivos, el aumento de la demanda de uso de COTS (y otros dispositivos no caracterizados contra la radiación) y los requisitos de radiación solicitados por nuevas...
HCP306HV hot/cold plate of 150mm x 150mm dimensions LN2 pumping system w/10L LN2 dewar to be used as a portable system mK1000U temperature controller unit with a temperature range of -100°C to +200ºC Vacuum chamber allowing vacuum conditions of 1E-3mbar with lid cover and 100mm...
Alter Technology realiza: Prueba de compatibilidad electromagnética de acuerdo con MIL-STD-461 E / F, MIL-STD-461, EN 61326-1, Prueba de seguridad de acuerdo con EN 61010-1 y Prueba ambiental de acuerdo con MIL-STD-810 F / G /G
Types (PM, POF, Single Mode, MM) Connectors AVIM FC/APC Splitters Switches Testing Temperature Cold Bending Pull and Rotation test Attenuation Wavelength range Rapid depressurization Radiation
