Los conectores prensados están ampliamente presentes en los sistemas EEE debido al buen rendimiento y la instalación más sencilla en dimensiones reducidas. Debido a la función clave desempeñada, se requiere que tengan una alta durabilidad incluso en condiciones de operación...

La espectroscopia de fotoemisión de rayos X (XPS), también conocida como espectroscopia electrónica para análisis químico (ESCA), es un método de análisis cuantitativo sensible a la superficie para determinar con precisión la composición elemental de los materiales sólidos. La...

XRF es una herramienta analítica rápida y no destructiva para determinar los elementos químicos presentes en la muestra. En particular, combina un límite de detección bajo (particularmente en el caso de elementos pesados) con una preparación de muestras rápida y fácil.

Esta técnica analítica puede proporcionar información cualitativa y cuantitativa sobre la composición de una superficie (por ejemplo, la identificación de los elementos y el peso de estos, respectivamente). La técnica se basa en la detección y la espectroscopia de radiación...

Este tipo de inspección se realiza utilizando un microscopio electrónico que produce imágenes de una muestra al efectuar un barrido con un haz de electrones focalizados. La interacción entre los electrones y los átomos en la muestra genera señales que contienen información sobre...