Alter Technology has an ENAC accreditation to perform voltage fluctuation and flicker tests (accreditation number 345/LE 808). Basic standard EN 61000-3-3. The objective of this test is to measure the voltage fluctuation and flicker impressed on the public low-voltage system...
Instalaciones de Prueba para Bakeout y temperaturas muy extremas; Las instalaciones actualizadas comprenden: 8 cámaras criogénicas con un rango de temperatura de -195ºC a + 400ºC y rampas de hasta 40ºC / min. Dimensiones hasta 90x50x35cm.
El haz de iones focalizados, también conocido como "sistema de fresado por haz de iones", es una técnica que se usa especialmente en el sector de los semiconductores y la ciencia de los materiales para la ablación, la deposición y el análisis de materiales específicos en el...
La utilización de circuitos digitales y analógicos diferenciales (o equilibrados) para el tratamiento de la información ha aumentado en los últimos años. Cuando se transmiten señales eléctricas de alta velocidad, tanto los campos electromagnéticos (EM) generados por las señales...
Many basic testers availables which offer the capability to carry out a test in a rather short delay (a few weeks) at a relatively low cost. Capability to develop on demand test setup for complex devices (μP High frequency devices, RF fixtures etc…) higher cost driven by the...
Actividades en Alter technology : Diseño y desarrollo de una cámara personalizada Caracterización del rendimiento de píxeles Monitoreo en línea de parámetros eléctricos y adquisición de imágenes en diferentes condiciones de trabajo (radiación, temperatura, vacío) Radiación de...
Las aplicaciones de monitoreo estructural de la salud de las naves espaciales se ven impulsadas por mayores restricciones en el costo de lanzamiento de cargas útiles en órbita que imponen una reducción importante en el peso estructural solo a través del uso de materiales...
Área limpia con una cámara de flujo laminar (clase 100) Mesa óptica con estabilidad a la vibración Área libre de ESD Láser de 1064 nm, 1310 nm y 1550 nm con una opción de modulación de hasta 20 GHz Esfera integradora (250 - 2500 nm) y detectores Analizador de espectro (600 ...
Se ha desarrollado una nueva fuente óptica integrada capaz de emitir pulsos tenues con diferentes estados de polarización y con diferentes niveles de intensidad a 100 MHz. La fuente se basa en un único diodo láser seguido de cuatro amplificadores semiconductores y polarizadores...
Para comprender la evaluación de los láseres DFB de 2,1μm para aplicaciones espaciales es importante saber más sobre los láseres semiconductores (o diodos láser) que operan en la región de longitud de onda de 1,8 μm a 3 μm. Son fuentes de luz atractivas para aplicaciones que...
Después de exponer los elementos clave sobre la evaluación de componentes optoelectrónicos para aplicaciones espaciales, donde el vacío térmico y otras restricciones ambientales tales como el rango de temperatura, radiación o vibración y ejemplos de características...
Se ha llevado a cabo una campaña de evaluación y calificación especializada en varios componentes ópticos COTS para utilizarlos en la misión SMOS de la ESA. La fase de evaluación consistió en un conjunto de pruebas y análisis críticos y condujo a la selección del componente de...
