Nuevo equipo de microscopía acústica de barrido

ALTER TECHNOLGY actualiza sus capacidades de Microscopía Acústica de Barrido

Alter Technology ha mejorado sus capacidades de microscopía acústica de barrido con la adquisición de un nuevo microscopio acústico FineSAT V de Hitachi.

EQUIPO C-SAM

Características principales:

• Gran variedad de transductores (profundidad de inspección/resolución lateral ajustable).
• Transmisores/receptores de alta frecuencia con un amplio ancho de banda, detección de características micrométricas.
• Velocidad de inspección rápida.
• Imágenes de alta calidad.
• Software operativo recientemente desarrollado con novedosas funciones de análisis.
• 1. La función de recogida de formas de onda se utiliza para reproducir la inspección en diferentes condiciones de gating sin la muestra.
  2. Tratamiento avanzado de datos por transformada de Fourier.

Otras funciones avanzadas de inspección:

• Escaneo simultáneo de reflexión y transmisión para ayudar a la adecuada interpretación de los hallazgos del C-scan.
• Funciones multipuerta y multifoco para una inspección rápida y completa.
• Inspección de objetos alabeados.

Modos de exploración:

• C-scan: Inspección confocal.
• Through-scan: La señal de ultrasonidos transmitida proporciona información fiable sobre los defectos que provocan fuertes reflexiones (por ejemplo, huecos y deslaminaciones). El T-scan se registra simultáneamente con el C-scan para una interpretación fiable de las características detectadas.
• B-scan: Corte transversal virtual.
• A-scan: Verificación de la inversión de fase y cálculo de la profundidad. Si se solicita, se puede registrar el A-scan de área completa para realizar análisis más profundos.
• Escaneo multifocal.
• Escaneo de tiempo de vuelo: Análisis de espesor y profundidad.

Cartografía de profundidad

Capacidades técnicas.

La gran variedad de transductores y el transmisor/receptor de alta frecuencia con gran ancho de banda permiten obtener imágenes de alta calidad. Un conjunto completo de transductores nos permite adaptar adecuadamente la profundidad de inspección y la resolución lateral a las piezas inspeccionadas según las peticiones del cliente; incluyendo la inspección interna de paquetes gruesos (espesor > 5 mm) y la detección de características micrométricas.

Software de inspección y análisis.

FineSAT V está equipado con un software de procesamiento de datos desarrollado de forma independiente y un sistema de procesamiento de 64 bits recientemente adoptado, lo que permite tanto la inspección multifocal programable como la grabación del A-scan de área completa al mismo tiempo que se generan las imágenes del C-scan. Esta función de recogida de todas las formas de onda es una ventaja notable para los análisis ex situ, ya que el FineSAT V puede reproducir la inspección en diferentes condiciones de gating sin la muestra.

Para facilitar la localización de la delaminación, se ha desarrollado una función PCM (Método de Comparación de Polaridad). Esta función indica con énfasis la zona delaminada mediante una coloración especial en las imágenes en escala de grises. Las otras funciones analíticas avanzadas son el escaneo simultáneo por reflexión y por transmisión, la función de puertas múltiples y la función de enfoque múltiple. El “Grid Scan” es eficaz para inspeccionar objetos del mismo tamaño alineados en el mismo paso, como troqueles en obleas de silicio y LSI en bandejas de muestras.

Hitachi FineSAT V dispone de otras opciones avanzadas para satisfacer las últimas demandas de inspección.

Para los objetos de inspección que tienen superficies alabeadas, la función de seguimiento de superficies ayuda a la adquisición de imágenes mediante el seguimiento del perfil de la superficie. La función opcional de juicio automático de defectos “Golden Image” puede encontrar automáticamente imágenes anormales creando una imagen de referencia utilizando las imágenes adquiridas y comparándolas con cada una de ellas.