Diseño de circuitos impresos e integración de sistemas de test.
Es fácil entender que las altas prestaciones ofrecidas por los nuevos dispositivos electrónicos demanden entornos de prueba con características incluso superiores que permitan mediciones sin introducir “artefactos” que puedan afectar a los resultados. Este proceso se está convirtiendo en un reto, sobre todo cuando llevamos la tecnología a límites de frecuencia, velocidad, volumen de datos, etc.
Para alcanzar este objetivo, y asegurar las operaciones de prueba, se deben desarrollar tareas en diferentes áreas, desde el diseño electrónico, simulaciones eléctricas, diseño de PCB,…, etc., hasta la selección y evaluación de las tecnologías más apropiadas y las técnicas de integración asociadas para poder realizar mediciones válidas exigidas para determinadas aplicaciones de prueba: dispositivos de RF, circuitos integrados de altas prestaciones, …, etc.
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