Pruebas de Temperatura muy Extrema

Pruebas de temperatura muy extrema

Ejemplo de caracterización de partes (I): parámetros ópticos y eléctricos

Todos los parámetros ópticos y eléctricos de diferentes familias de componentes electrónicos (Electro-óptica, ASIC, RF, componentes discretos, partes pasivas, nuevos materiales, etc.) se pueden caracterizar para evaluar la utilidad de las piezas en dicho entorno.

 

Ejemplo de caracterización de partes (II): caracterización de SiC JFET y MOSFET

Parámetros clave de prueba:

• Caracterización de la temperatura: SiC -> T> 150ºC
• Alto voltaje (hasta 1700 V) más pruebas de alta temperatura (175ºC)
• Pruebas de alta potencia: dispositivos 17A

Ejemplo de caracterización de partes (III): creación de prototipos y caracterización de estructuras SIC MOS endurecidas por radiación

• Comprender el mecanismo de falla total de las tecnologías de SiC con respecto a los procesos de fabricación.
• Consolidar el mejor enfoque de diseño y fabricación para el futuro desarrollo de piezas.

Elementos clave

• Caracterización completa de varias fundiciones, así como procesos de oxidación, enfoque de envasado, etc.
• Consolidar los métodos de prueba y los estándares asociados para la caracterización de SiC

 

Ejemplo de caracterización de partes (IV): Partes fotónicas en programas relacionados con la exploración de Marte

Atmósfera de Marte

• Rango de temperatura (-135ºC a + 70ºC)
• Caracterización de la configuración óptica:

– Termopilas (para medición de temperatura sin contacto)

– Fotodiodos UV (200 nm – 400 nm)

Pruebas ambientales:

• Rango de temperatura: -135ºC a + 105ºC
• Neutrones de radiación, gamma, protones, etc.
• Life Test para simular los ciclos diurnos y nocturnos
• 600 ciclos -130ºC a + 15ºC (ciclos de invierno)
• 1410 ciclos -105ºC a + 40ºC (ciclos de verano)
• Caracterización completa de Fotodiodos UV
• De -135ºC a + 105ºC con pasos de 10ºC
• Linealidad
• Variación del ángulo de incidencia