La microscopía acústica de barrido (SAM), también denominada microimagen acústica (AMI) y tomografía acústica de barrido (SAT), es una herramienta consolidada y reconocida para el control de calidad, la inspección y el análisis de fallos de componentes y materiales microelectrónicos.
El principio de funcionamiento de la técnica se basa en la reflexión que experimentan las ondas acústicas en la interfaz entre diferentes medios e irregularidades de densidad. Así, el enfoque hace uso de pulsos de ultrasonidos focalizados (de MHz a GHz) para obtener imágenes de las interfaces y los límites de los materiales, así como de los daños físicos ocultos, generados durante la fabricación o inducidos tras las pruebas ambientales y el funcionamiento normal prolongado.
Como se ilustra en la figura, la técnica se utiliza de forma rutinaria para la detección no destructiva de defectos internos como:
Fallos detectados
Dentro / a través
Materiales
- Delaminaciones
- Vacíos y porosidad
- Grietas
- Inclusiones de partículas y materiales extraños
- …
- Materiales de envasado, incluidas las nubes de los moldes
- Semiconductores
- Cerámicas y vidrios
- Adhesivos (por ejemplo, rellenos)
- Metales
Por lo tanto, durante las últimas décadas, SAM ha demostrado ser una herramienta fiable y potente para la inspección no destructiva en diferentes sectores como:
- Espacio
- Defensa y aeroespacial
- Automoció
- Potencia y energía
- Análisis de materiales: cerámica y materiales compuestos
Principales actividades y servicios
Nuestros servicios de pruebas y aplicaciones de destino incluyen.
Realizado según diferentes métodos de prueba como:
- ESCC 25200 “Application of Scanning Acoustic Microscopy to Plastic Encapsulated Devices”
- IPC JEDEC J-STD-020 Moisture/Reflow Sensitivity Classification for Nonhermetic Surface Mount Devices
- J-STD-035 Acoustic Microscopy for Nonhermetic Encapsulated Componentes
- MIL-STD-883 “Test Method 2030 “Ultrasonic Inspection of die attach”
- MIL-STD-1580 “Destructive Physical Analysis for Electronic Electromagnetic and Electromechanical Parts”
- NASA PEM-INST-001 “Instructions for Plastic Encapsulated Microcircuit (PEM) Selection, Screening, and Qualification” (NASA/TP—2003–2122)
INFORMACIÓN EN TIEMPO REAL
Nuestra plataforma Vitual Lab para Pruebas Remotas proporciona a los usuarios de Alter Technology:
- Acceso instantáneo a los resultados de las pruebas
- Chat en vivo con nuestros inspectores durante y después de la duración de la prueba
Acceso a la base de datos de Alter Technology (30 años de datos acumulados) para comparar el rendimiento con otros lotes y componentes similares.
Gracias a la herramienta del Laboratorio Virtual, el cliente puede idear su propia solución de ensayo adaptada específicamente a las necesidades y requisitos reales y supervisar los resultados del ensayo en tiempo real, sin necesidad de esperar a que se completen todas las actividades. Así, el usuario final puede adaptar las zonas y los planos de inspección en función de los resultados iniciales. También recibirá comentarios y consejos de nuestros ingenieros de pruebas durante o después de la inspección.
Se puede acceder a los registros de inspección detallados inmediatamente después de la finalización de la actividad. De este modo, los fabricantes y usuarios ganan un tiempo valioso para desarrollar planes de contingencia y soluciones para abordar las anomalías detectadas.
Técnicas de inspección complementarias
Ensayo de esfuerzo
- Ensayo de humedad y térmica.
- Thermal-vacuum testing
- Temperature cycling
- Thermal shock
- Vibration testing
Nuestro compromiso con la calidad
En Alter Technology el Laboratorio de Microscopía Acústica de Barrido cuenta con un equipo cualificado (Ph.D., M.Sc.) y multidisciplinar especializado en diferentes disciplinas como la Ciencia de los Materiales, la Física, la Electrónica y la Ingeniería Aeroespacial; junto con un personal técnico altamente experimentado con una sólida formación en microscopía, análisis de materiales e inspección de AEE. Este equipo está respaldado por los más de 30 años de experiencia de Alter Technology en ensayos e ingeniería de AEE.