The Tin Whisker is a conductive hairy-like crystalline structures of tin that grow spontaneously from a tinned surface, usually as a result of stress of some sort, and maybe long enough to cause a big problem for those applications demanding high level of reliability. In this... Continue reading
El nuevo siglo trajo al espacio un nuevo tipo de células solares con mayores eficiencias y una mejor resistencia al daño por radiación, como las basadas en los GaAs de unión única III-V. Este nuevo material abrió la posibilidad de una mejora adicional mediante el desarrollo de... Continue reading
Radio Frequency Screening activities for space applications require extreme care during the manipulation of the EEE parts to be assembled on a spacecraft. Continue reading
Aprovisionamiento de componentes EEE Conformidad total con los requisitos del proyecto Nuestra experiencia técnica y comercial y nuestros conocimientos nos permiten recomendar, seleccionar y proporcionar componentes procedentes de orígenes de fabricación fiables (evitando... Continue reading
El almacenamiento a largo plazo fue uno de nuestros primeros estudios. En 1993, en el marco de nuestro proyecto COLUMBUS, realizamos un contrato con la ESA para evaluar el “almacenamiento a largo plazo de componentes de alta fiabilidad”. Alter Technology realiza el... Continue reading
Capacidad, habilidad y experiencia en las propias instalaciones para realizar análisis eléctricos de cualquier tipo de tecnología de componente electrónico. Para efectuar tests en dispositivos pasivos, disponemos de equipos que permiten la caracterización del comportamiento... Continue reading
Es una prueba de estrés eléctrico que, normalmente, emplea voltaje o temperatura para acelerar la aparición de fallos de fiabilidad latentes en un dispositivo. El objetivo del burn-in test es eliminar posibles fallos que puedan producirse en una fase temprana del ciclo de vida... Continue reading
El grosor de los revestimientos metálicos se comprueba de forma rutinaria mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X. Esto ofrece una base para evaluar la calidad de los materiales revestidos y, en consecuencia, influye en las decisiones sobre la disposición... Continue reading
Se lleva a cabo para evaluar la fiabilidad de los dispositivos de estado sólido encapsulados no herméticos que se usan frecuentemente en entornos húmedos durante el funcionamiento normal (ambiente). El objetivo de la HAST es acelerar la penetración de la humedad en las partes... Continue reading
En ciertas condiciones y de conformidad con el estándar ECSS-Q-ST-60-13C sobre el uso de componentes comerciales EEE en aplicaciones espaciales, este ensayo se puede sustituir por la prueba de estrés de temperatura y humedad altamente acelerada (HAST), con una duración de ensayo... Continue reading
El objetivo del test de ciclados térmicos es determinar la capacidad de los componentes y las interconexiones soldadas de resistir temperaturas extremadamente altas, así como exposiciones cíclicas a temperaturas extremas. Como resultado del efecto del estrés mecánico inducido... Continue reading
Los ensayos ambientales constituyen una útil herramienta para la evaluación, cualificación y análisis de los componentes EEE para aplicaciones de alta fiabilidad.Se pueden aplicar distintos tipos de estrés a los productos de forma controlada, lo que permite acelerar la aparición... Continue reading
